太陽能電池片薄膜測試儀

  • 產品型號:FilmTek Solar
  • 制造原廠:Scientific Computing International

用于光伏應用的反射分光光度法

太陽膜厚度測量系統
帶自動XY平臺的FilmTek?太陽能
FilmTek?積分球
FilmTek?積分球

FilmTek?Solar是一款精確且經濟的薄膜厚度測量系統,專為紋理基材設計。與競爭的橢偏儀設計不同,FilmTek?Solar不需要特殊的臺階傾斜或樣品對準。通過將小的測量光點尺寸與大的收集角度相結合,可以獲得無粗糙和紋理基底的極佳信噪比,無需樣品對準。FilmTek?軟件自動模擬紋理單晶硅基板的多次反射,以提供準確的膠片測量。FilmTek?Solar特別適用于測量織構化硅襯底上的抗反射涂層(如沉積在單晶硅和多晶硅襯底上的氮化硅薄膜)。

FilmTek?軟件包含完全用戶可定制的映射功能,可快速生成任何測量參數的2D和3D數據圖。除用戶定義的模式外,標準地圖模式還包括極坐標,XY,rθ或線性。

FilmTek?積分球測量放置在球體10.3 mm樣品端口上的平整表面的總體積反射率。照明是由一個內部鹵鎢燈提供的,該鎢鹵素燈擋住了樣品上的入射光從球壁反射回來。球體的高朗伯內部提供了一個統一的180°照明場。手動開關可以測量漫反射或鏡面反射和漫反射。FilmTek?積分球是用于測量光伏應用的全集成反射率和膜厚度的理想解決方案。

對于薄膜光伏應用,我們推薦使用FilmTek?2000FilmTek?3000系統來表征帶隙,層厚和粗糙的界面層,這對于最大限度提高光伏器件效率至關重要。

測量功能:

FilmTek?Solar將SCI的廣義材料模型與先進的全局優化算法相結合,可同時測定:

  • 多層厚度
  • 折射率[n(λ)]
  • 消光(吸收)系數[k(λ)]

低成本

FilmTek?Solar的擁有成本只是可比儀器的一小部分。

直觀的

FilmTek?Solar軟件的設計使得在薄膜光學設計或測量技術方面需要最少的經驗。

硬件

FilmTek?太陽能/集成球體包括:

  • 紫外/可見/近紅外分光光度計
  • UV / VIS / NIR光源
  • 光纖電纜
  • 自動舞臺與光學
  • 運行Windows?7操作系統的多核處理器的計算機


FilmTek?太陽能技術規格
薄膜厚度范圍:3nm的-150μm的

薄膜厚度準確度:± 2 為NIST可追蹤標準氧化物1000 到1um

光譜范圍:波長為240nm-950nm

測量點大?。?/span>1mm

樣本量:2mm至156mm標準

光譜分辨率:為0.3nm

光源:受控氘鹵素燈(壽命2,000小時)

檢測器類型:2048像素索尼線性CCD陣列

600納米(1 秒)的反射靜態重復性0.01%

測量時間:每個部位<1秒(氧化膜)

數據采集時間:0.2秒

電腦:帶有Windows?7操作系統的多核處理器

FilmTek?集成球體技術規格
薄膜厚度范圍:為10nm-50um

薄膜厚度準確度:± 2 為NIST可追蹤標準氧化物1000 到1微米

光譜范圍:在380nm-950nm

測量點大?。?/span>10.3mm

樣本量:15mm至300mm標準

光譜分辨率:為0.3nm

光源:規定的鹵鎢燈(900小時壽命)

檢測器類型:2048像素索尼線性CCD陣列

600納米(1 秒)的反射靜態重復性0.01%

測量時間:每個部位<1秒(氧化膜)

數據采集時間:0.2秒

電腦:帶有Windows?7操作系統的多核處理器

性能規格
薄膜(S)厚度測量參數精度(1σ)
氧化物/硅100-10,000?t0.5?
氮化物/硅100-10,000?t0.5?


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